PVD Multi-Process tyndfilmsudstyr

PVD Multi-Process tyndfilmsudstyr

Detaljer
PVD Multi-Process Thin Film Equipment er en integreret vakuumaflejringsplatform, der er udviklet til at kombinere flere tynde-filmfremstillingsteknikker – inklusive RF/DC Magnetron Sputtering, Thermal Evaporation og Electron Beam Evaporation – inden for en samlet vakuumarkitektur.
Produkt klassificering
PVD-komposit tyndfilmsudstyr
 
Send forespørgsel
Beskrivelse
Tekniske parametre

PVD Multi-Process Thin Film Equipment er en integreret vakuumaflejringsplatform konstrueret til at kombinere flere tynde-filmfremstillingsteknikker-herunder RF/DC-magnetronforstøvning, termisk fordampning og elektronstrålefordampning-i en samlet vakuumarkitektur.


Dette system eliminerer vakuumbrudskontamination mellem forskellige proceslag, hvilket muliggør aflejring af komplekse flerlags-metalliske, dielektriske og halvlederfilm uden eksponering fra omgivelserne. Konfigureret til laboratorie-F&U-klynger eller pilot-linjeproduktion kan den rumme substrater på op til 300 mm i diameter eller tilpassede bærere.

 

Tekniske specifikationer

 

Parameter

Specifikationsdetaljer

Ultimativt basistryk

< 5.0 x 10^-6 Pa (Achieved via Turbo-Molecular and Cryogenic Pumping)

Kammermateriale

304L / 316L rustfrit stål, elektro-poleret (Ra < 0,25 um)

Substratkompatibilitet

Siliciumwafers (op til 300 mm), glas, kvarts, metalfolier, fleksible underlag

Aflejringskilder

Op til 4 sputter-katoder (2-tommer til 4-tommer), 2 E-Beam-lommer, 2 termiske både

Filmens ensartethed

+/- 1% på tværs af et 200 mm substratområde (rotations-assisteret)

Opvarmning af underlag

Omgivelsestemperatur til 800 C med PID lukket-sløjfe temperaturkontrol

Strømforsyninger

DC (op til 5kW), RF (13,56MHz, op til 2kW), Pulserende DC til reaktiv sputtering

System kontrol

PLC + Industriel PC, SCADA-software, fuld receptautomatisering og manuel tilsidesættelse

 

Nøglefunktioner


Modulær vakuumarkitektur:Uafhængige proceskamre koblet via gateventiler forhindrer kryds-kontamination mellem reaktiv sputtering og høj-vakuumfordampning.


I-Vacuum Substrat Transfer:Magnetiske eller lineære overføringsarme opretholder et højt vakuum (< 10^-4 Pa) during inter-chamber sample movement.


Hurtig-Skift kildeflanger:Sputterkatoder og e-stråledigler er monteret på standard CF-flanger for hurtig vedligeholdelse og udskiftning af mål.


Avanceret kryogen fældefangst:Integrerede kuldefælder med flydende nitrogen og Meissner-fælder minimerer det resterende vanddamptryk inde i kammeret.


Overvågning af lukket-løkketykkelse:Dual quartz crystal microbalance (QCM)-sensorer giver realtids-aflejringshastighed og tykkelsesfeedback knyttet direkte til strømforsyningsregulering.

 

Konfiguration af vakuumsystem


Skrubbefase:Olie-fri rullepumper parret med fler-rodblæsere for at eliminere tilbagestrømning af kulbrinte-.


Højvakuumfase:Backed by magnetically levitated turbo-molecular pumps (>1200 L/s for N2) og valgfri kryopumper til høj vand-gennemstrømning.


Trykregulering:Baratron kapacitansmanometre til absolut trykmåling uafhængig af gasart, parret med automatiserede drosselventiler til præcis procesgastrykkontrol (0,1 Pa til 10 Pa).


Lækagedetektion:Heliumlækage-testet til < 1 x 10^-9 Pa*m^3/s før fabriksgodkendelsestest (FAT).

 

Fordampningsmaterialer og substratkompatibilitet


Ledende mål:Au, Ag, Cu, Al, Ti, Cr, ITO, AZO, Mo, W, NiCr.


Dielektriske materialer:SiO2, TiO2, Al2O3, Ta2O5, HfO2 (via reaktiv sputtering eller e-stråle).


Underlagstyper:
Halvlederwafere (silicium, galliumarsenid, indiumphosphid).


Optiske emner (Fused silica, BK7, Sapphire).


Fleksible baner og tynde metalplader (polyimid, rustfrit stålfolie).

 

Applikationer og verificerede ydeevnedata


Optoelektronik:Aflejring af transparente ledende oxidlag (TCO) og anti-reflekterende (AR) optiske filterstakke.


Fremstilling af halvlederenheder:Dannelse af ohmske kontakter, Schottky-barrierer, frølag til galvanisering og diffusionsbarrierer (Ti/TiN).


Sensorfremstilling:Tynd--film strain gauges, mikro-varmeelementer og piezoelektriske transducere.


Avanceret R&D:Udforskende flerlags tynd-filmsyntese til kvanteberegningskomponenter og nye energilagringsmaterialer.

 

Tilpasningsmuligheder


Kammergeometri:Udvidelse af kammerdimensioner for ikke-standard eller overdimensionerede batchsubstrater.


Kildeintegration:Brugerdefinerede tildelingsforhold mellem magnetronforstøvningspistoler og elektronstrålefordampningslommer.


Bias Sputtering:Substrat RF/DC forspændingsmuligheder til filmfortætning og spændingskontrol.


Indlæs-låsintegration:Tilføjelse af automatiske belastnings-låsekamre for at opretholde høj vakuumintegritet under høje-belastningscyklusser.

 

Kvalitetskontrol og fabrikstest


Materiale sporbarhed:Mølletestcertifikater (MTC'er) leveres for alle vakuum-side rustfri stålkomponenter og strukturelle rammer.


Renrumssamling:Endelig integration og verifikation af partikeltal- udført i et ISO klasse 6-renrumsmiljø.


Fabriksaccepttest (FAT):72-timers kontinuerlig vakuum-bage-out-test, lækagetest via massespektrometri med residual gasanalysator (RGA) og basislinjefilmaflejring, der verificerer tykkelsesensartethed.

 

Installation og teknisk support


Vejledning til forberedelse af websted:Comprehensive utility mapping provided pre-shipment, detailing chilled water flow rates (>15 L/min), trykluft, procesgasledninger (Ar, O2, N2 ved 99,999 % renhed) og krav til elektrisk belastning (3-faset 380V/480V).


Idriftsættelse:Installation på-stedet, vakuumkalibrering og fælles test-udført af fabrikkens feltserviceingeniører.


Operatøruddannelse:Struktureret 5-dages træning på stedet, der dækker rutinemæssig vedligeholdelse, vakuumsikkerhedsprotokoller, opskriftsprogrammering og grundlæggende fejlfinding.

 

Ofte stillede spørgsmål

 

Q: Hvad er den typiske nedetid for pumpen- fra atmosfære til det endelige basistryk?

A: Ved at bruge standardolie-fri skrub og turbo-molekylær pumpekonfiguration opnår systemet et basistryk på < 5,0 x 10^-6 Pa inden for 45 minutter fra en tør, ren start.

Sp.: Kan systemet opgraderes i marken fra et enkelt kammer til en multi-kammerklynge?

A: Ja. Det modulære rammedesign inkorporerer standard ConFlat (CF) flangeporte og standardiserede mekaniske justeringsgrænseflader, hvilket muliggør integration af yderligere aflejringskilder eller belastnings-låsemoduler på dit anlæg.

Q: Hvilke sikkerhedslåse er integreret i kontrolsystemet?

A: PLC-arkitekturen inkluderer hardware-niveaulåse til kølevandsflowsvigt, trykfald i trykluft, støttepumpestatus, over-temperaturforhold og beskyttelse mod utilsigtet udluftning af vakuumkammeret.

 

Populære tags: pvd multi-proces tyndfilmsudstyr, Kina pvd multi-proces tyndfilmudstyrsproducenter, leverandører, fabrik

Send forespørgsel
Kontakt oshvis du har spørgsmål

Du kan enten kontakte os via telefon, e-mail eller online formularen nedenfor. Vores specialist vil kontakte dig snarest.

Kontakt nu!